电子及电子元器件高低温冲击实验
2020-05-15 点击量：
高低温冲击实验是用于考核产品在温度急速变换环境下的适应性，是产品设计定型和批量生产阶段的一种质量把控方式，在有些情况下也能用于环境应力筛选试验。高低温冲击试验室确定元件暴露在高低温极值下，抵御高低温极值交替冲击的能力。
高低温冲击试验方法：
一、实验前准备工作
1、对电子及电子元器件进行外观检查、电性能和机械性能检查。
2、将样品按照相关标准进行安装，在放入工作室内时，硬保证气流能顺利无阻穿过、绕过被检测样品。
二、试验步骤
1、将样品放入低温箱内，此时低温箱的温度调整为-55℃（可存在0~-3℃的误差）或-65℃（可存在0~-5℃的误差），并在该温度下保持0.25~4h（具体时间参考下表）。
2、第一步结束后，需在5min中内将样品从低温箱移至高温箱，此时高温箱的温度应调整为25℃（可存在±10℃的误差），并在该温度下保存，保存时间可参考下表。
3、上一步结束后，需在5min中内将样品从高温箱再移至低温箱，第一步低温箱温度为-55℃的，高温箱温度可设定为85℃（可存在0~-3℃的误差），第一步低温箱温度为-65℃，高温箱温度可从125℃（可存在0~-3℃的误差）、200℃（可存在0~-5℃的误差）、350℃（可存在0~-5℃的误差）、500℃（可存在0~-5℃的误差）、150℃（可存在0~-5℃的误差）中选择检测，检测时间参考下表。
4、上一步结束后，按照第二步方法再进行设定。
5、将 1~4步循环5次、25次、50次、100次，除了最初的5次循环不可中断外，之后的任何一次循环都可中断试验，再恢复试验之前可允许恢复试验标准大气压。
高低温冲击试验检测时长
在高低温冲击实验循环结束 后，将样品放置在标准大气压条件下，待样品温度稳定，然后根据相关标准，对样品的外观、电性能、机械性能进行检查。
